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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 발행연도
- 2001.4
- 수록면
- 438 - 441 (4page)
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Design of accelerated life test sampling plans (ALTSPs) is considered for products with Weibull lifetime distribution. It is assumed that the Weibull scale and shape parameters are log linear functions of (possibly transformed) stress. Two types of ALTSPs
are considered; time-censored and failure-censored. Optimum ALTSPs which satisfy the producer's and consumer's risk requirements and minimize the asymptotic variance of the test statistic for deciding
the lot acceptability are obtained. The properties of the proposed ALTSPs and the effects of errors in pre-estimate of the design parameters are investigated.
are considered; time-censored and failure-censored. Optimum ALTSPs which satisfy the producer's and consumer's risk requirements and minimize the asymptotic variance of the test statistic for deciding
the lot acceptability are obtained. The properties of the proposed ALTSPs and the effects of errors in pre-estimate of the design parameters are investigated.
목차
Abstract
1. Introduction
2. Design of time-censored ALTSPs
3. Design of failure-censored ALTSPs
4. Properties of ALTSPs with nonconstant shape parameter
References
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