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- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 발행연도
- 2003.11
- 수록면
- 1,080 - 1,085 (6page)
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The flow of electrical current through a microscopic actual contact spot between two conductors is
influenced by the flow through adjacent contact spots. A smoothed version of this interaction effect is
developed and used to predict the contact resistance when the statistical size and spatial distribution of
contact spots is known. To illustrate the use of the method, an idealized fractal rough surface is
defined using the random midpoint displacement algorithm and the size distribution of contact spots is
assumed to be given by the intersection of this surface with a constant height plane. With these
assumptions, it is shown that including finer scale detail in the fractal surface, equivalent to reducing
the sampling length in the measurement of the surface, causes the predicted resistance to approach the
perfect contact limit.
influenced by the flow through adjacent contact spots. A smoothed version of this interaction effect is
developed and used to predict the contact resistance when the statistical size and spatial distribution of
contact spots is known. To illustrate the use of the method, an idealized fractal rough surface is
defined using the random midpoint displacement algorithm and the size distribution of contact spots is
assumed to be given by the intersection of this surface with a constant height plane. With these
assumptions, it is shown that including finer scale detail in the fractal surface, equivalent to reducing
the sampling length in the measurement of the surface, causes the predicted resistance to approach the
perfect contact limit.
목차
Abstract
1.Introduction
2. Statistical Implementation of Greenwood‘s equation
3. Interpretation of the Function h (ξ, η )
4. Microcontact spot distribution
5. Results
6. Discussion
7. Conclusions
Acknowledgement
Reference
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