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논문 기본 정보

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학술저널
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저널정보
대한기계학회 기계저널 기계저널 제45권 제3호
발행연도
2005.3
수록면
34 - 39 (6page)

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최근 나노기술의 발전 및 신기술 개발로 여러 가지 새로운 분석 대상물이 나타나게 되었고, 이러한 대상 물은 기존의 분석장비로는 분석이 불가능한 영역까지 분포해 있다. 따라서 이에 관련된 분석장비 기술에 대한 관심이 커지고 있다. 예를 들어, 기존의 반도체나 정밀기계뿐만 아니라 DNA나 단백질 같은 생화학 분야의 다양한 유기/무기물 또한 분석 대상에 포함되고, 대상물의 분석한계 또한 매우 높아지고 있다. 특히 나노기술 분야에서는 대상물의 분석가능 여부에 따라 연구의 성패가 좌우될 정도로 분석장비에 대한 의존도가 매우 높은데, 이에 따라서 분석장비의 성능을 획기적으로 항상시켜 관련기술을 보유하려는 연구가 세계적으로 활발히 진행 중이다. 전세계적으로 분석장비 시장은 연간 약 500억 달러(2002년)에 달하며, 국내시장의 분석기기 수요는 연간 약 l0억 달러 규모로 매년 20%의 성장률을 유지하고 있다.
대표적인 분석장비로는 전자빔현미경, 원자현미경, 공초점현미경, X선현미경, 그리고 타원편광분석기가 있으며 각 분석장비의 특성에 따라 분석대상물과 분석 항목 그리고 분석 속도 및 분해능이 달라지게 된다. 이 글에서는 위에서 언급한 여러 가지 분석 장비의 특징, 응용 및 최근의 연구 방향에 대애 알아 보도록 한다. 표 l은 각 분석장비에 따른 기술적 특성을 비교한 것이다.

목차

공초점현미경

전자빔현미경

원자현미경

X선현미경

타원편광분석기

맺음말

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UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2009-550-014488653