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본 논문에서는 적합성시험에서 데이타흐름시험열의 최적화방법을 제안한다. 우수한 오류검출 범위를 갖는 데이타흐름시험열은 일반적으로 제어흐름시험열보다 길기 때문에 최적화가 요구된다. 제어흐름시험열의 최적화는 형식화된 시험개념을 바탕으로 연구될 수 있었으므로 마찬가지로 데이타흐름시험의 개념을 형식화하여 그 시험열을 최적화 한다. 먼저 이 각 예지에 존재하는 시험성분을 정의하고 각 시험열이 그 시험성분집합 안에 어떠한 시험성분을 가지는지를 보인다. 기존의 주요 데이타선택범주를 이러한 방법으로 표현하고 적합성시험에 알맞은 새로운 데이타 선택범주를 제안한다. 데이타흐름시험열의 길이는 주로 루프와 집중상태에 의해 증가되므로 제안된 최적화방법은 형식화된 데이타흐름시험의 개념을 통해 그 부분을 대상으로 한다. 마지막으로 제안된 방법이 가지는 다른 유용성에 대해 논의하고 두 가지 통신 프로 토콜의 시험케이스 생성에 이 기법들을 적용하여 그 효용성을 입증한다.

목차

요약

Abstract

1. 서론

2. 데이타흐름시험의 형식화

3. 최적화된 시험열의 생성

4. 실험 및 결과고찰

5. 결론

참고문헌

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