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본 논문에서는 RTL 회로의 데이터페스에 대한 테스트 용이도 분석방식과 테스트 용이화 설계방식을 제안하다. 데이터패스에 대한 테스트 용이도 분석은 콘트롤러에 대한 정보없이 RTL 회로의 데이터패스만으로 수행한다. 본 논문에서 제안한 테스팅을 고려한 설계방식은 내장된 자체 테스트(BIST)나 주사(scan)방식이 아니 ... 전체 초록 보기

목차

요약

1. 서론

2. RTL 회로의 데이터패스

3. 테스트용 멀티플렉서의 삽입 방식

4. RTL회로의 테이터패스에 대한 테스트 용이도 분석

5. 실험결과

6. 결론

7. 참고 문헌

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UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2009-569-017834225