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논문 기본 정보

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한국분석과학회 분석과학 분석과학 제7권 제4호
발행연도
1994.12
수록면
471 - 476 (6page)

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PIXE(양성자 유발 X-선 발생) 분석법을 이용한 두께 측정의 가능성을 알아보기 위하여, 구리판 위에 코팅된 금 박막 시료들을 이용하여 실험을 수행하였다. 두 가지 실험방법을 사용하여 분석을 하였으며, 결과를 비교하여 보았다. 또한 분석 결과의 정확성을 확인하기 위하여 무게측정 방법과 양성자 RBS 분석법에 의한 결과들과 비교하여 보았다. 이 분석 방법은 고고학 시료나 거대시료와 같이 진공 표적함에 집어 넣을 수 없는 경우에도 비파괴적으로 박막의 두께를 측정할 수 있는 장점을 갖고 있다.

목차

Abstract

요약

1. Introduction

2. principle of the Methods

3. Experimental

4. Results and Discussion

References

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UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2009-433-018127384