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한국조명·전기설비학회 조명·전기설비학회논문지 조명·전기설비학회논문지 제21권 제1호
발행연도
2007.1
수록면
19 - 27 (9page)

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본 논문에서는 모폴로지 기법을 이용한 TFT-LCD 셀의 라인 결함과 픽셀 결함을 검사할 수 있는 알고리즘을 개발하였다. 이때 LCD 셀의 브라이트 라인 결함, 다크 라인 결함, 브라이트 픽셀 결함, 다크 픽셀 결함들을 검출하기 위하여, 셀의 크기 특성을 고려한 모폴로지 연산자의 모양을 결정하고, 팽창 연산, 침식 연산 및 차분 기법을 이용하여 결함 정보를 추출하였다. 이후 다양한 실험을 통하여 결정된 적절한 임계값을 이용한 최적의 이진화 알고리즘을 적용하였다. 마지막으로 결함정보의 인식을 위한 라벨링 과정을 통하여, 결함들을 검출하였다. TFT-LCD 판넬의 다양한 검사 실험을 통하여, 본 논문에서 제안하는 알고리즘의 결함정보 검출 성능이 매우 우수함을 확인하였다.
#Machine vision #Defects detection #Morphology #Erosion #Dilation #TFT-LCD #Cell #Subpixel

목차

요약
Abstract
1. 서론
2. 모폴로지, 이진화 및 라벨링 기법
3. 라인 결함 검출 알고리즘
4. 픽셀 결함 검출 알고리즘
5. 실험 및 결과 분석
6. 결론
References
저자소개

참고문헌 (9)

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R. C. Gonzalez, R. E. Woods, “Digital Image Processing”, 2nd Edition, Prentice Hall, 2001. google schola I. Pitas, “Digital Image Processing Algorithms And Applications”, WILEY, 2000. google schola eVision 6.2 C++ Reference Manual, Euresys, 2002. google schola Ikenaga, T. and Ogura, T., “Real-Time Morphology Processing Using Highly Parallel 2-D Cellular Automata CAM2”, Image Processing, IEEE Transactions on Volume 9, Issue 12, pp.2018-2026, Dec. 2000. google schola Heijmans, H.J.A.M, “Theoretical aspects of gray-level morphology”, Pattern Analysis and Machine Intelligence, IEEE Transactions on ,Volume 13, Issue 6, pp. 568-582, Jun. 1991. google schola

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