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대한기계학회 대한기계학회 춘추학술대회 대한기계학회 2006년도 추계학술대회 강연 및 논문 초록집
발행연도
2006.11
수록면
1 - 6 (6page)

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We report the structural modification of carbon nanotube (CNT) tip for Atomic force microscopy (AFM) based on ion beam irradiation. In general, CNT tip assembled by dielectrophoresis would often have non-vertical angle, very crooked shape or too lengthy one. Therefore, these tips should be modified to the appropriate shape to use as an AFM tip. We found that the ion beam could contribute to merge the bundled CNTs, to make the CNT diameter uniform as well as to make the wavy shape of CNT straight. In addition, we could cut the free-standing CNT on a Si tip using focused ion beam(FIB). We measured anodic aluminum oxide sample and trench structure to estimate the performance of FIB-modified tip and compared with those of conventional Si tip. We demonstrate that FIB modified tip in non contact mode had superior characteristics than conventional tip in the respects of wear, image resolution and sidewall measurement.

목차

Abstract
1. 서론
2. 실험
3. 실험결과
4. 결론
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