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The opening test of a filament is very important for the reliability of fluorescent lamps. Failure mechanisms of filament in fluorescent lamps are investigated by the filament accelerated stress test and voltage accelerated stress test. The characteristics of the accelerated test data are also compared with those of field data. The failure sites of filament in fluorescent lamp were occurred at the middle part of filament due to radiant heat and the edge part of filament due to torsional stress caused by thermal stress. It found that the life time of fluorescent lamp was effected by the cooling time and the structure of filament.

목차

Abstract
1. 서론
2. 실험
3. 결과 및 고찰
4. 결론
참고문헌

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