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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
저널정보
한국표면공학회 한국표면공학회지 한국표면공학회지 제42권 제6호
발행연도
2009.12
수록면
287 - 293 (7page)

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The passivation films with epoxy layer on LiF, SiN<SUB>x</SUB> and LiF/SiN<SUB>x</SUB> inorganic layer were fabricated on OLED to protect device from the direct damage of O₂ and H₂O and to apply for a buffer layer between OLED device and passivation multi-layer with organic/inorganic hybrid structure as to diminish the thermal stress and expansion. Red OLED doped with 1 vol.% Rubrene in Alq₃ was used as a basic device. The device structure was multi-layer of ITO(150 ㎚) / ELM200_HIL(50 ㎚) / ELM002_HTL(30 ㎚) / Alq₃: 1 vol.% Rubrene(30 ㎚) / Alq₃(30 ㎚) / LiF(0.7 ㎚) / Al(100 ㎚). LiF/epoxy applied as a protective layer didn't contribute to the improvement of life time. While in case of SiN<SUB>x</SUB>/epoxy, damage was done in the passivation process because of difference in heat expansion between films which could occur during the formation of epoxy film. Using LiF/SiN<SUB>x</SUB>/epoxy improved lifetime significantly without suffering damage in the process of forming films, therefore, the best structure of passivation film with inorganic/epoxy layers was LiF/SiN<SUB>x</SUB>/E1.

목차

Abstract
1. 서론
2. 실험 방법
3. 결과
4. 결론
후기
참고문헌

참고문헌 (12)

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