메뉴 건너뛰기
.. 내서재 .. 알림
소속 기관/학교 인증
인증하면 논문, 학술자료 등을  무료로 열람할 수 있어요.
한국대학교, 누리자동차, 시립도서관 등 나의 기관을 확인해보세요
(국내 대학 90% 이상 구독 중)
로그인 회원가입 고객센터 ENG
주제분류
인문학
인문학 일반 역사학 철학 종교학 어문학 기타 인문학
사회과학
사회과학 일반 경영학 관광학 교육학 군사학 문헌정보학 법학 사회학 신문방송학 심리과학 정치외교학 지리학 행정학 경제학 무역학 인류학 기타 사회과학
자연과학
자연과학 일반 물리학 생물학 생활과학 수학·통계학 천문학 지구과학 화학 기타 자연과학
공학
공학 일반 건축공학 기계공학 산업공학 재료·에너지공학 전기전자공학 조선해양공학 화학공학 컴퓨터학 기타공학
의약학
의학 일반 간호학 수의학 약학 한의학 기초의학 임상의학 기타 의약학
농수해양학
농수해양학 일반 농학 수산학 식품과학 임학 축산학 해상운송학 기타 농수해양학
예술체육학
예술 일반 디자인 미술 미용 사진 음악학 의상 체육 공연매체예술 기타 예술체육학
복합학
학제간연구 과학기술학 뇌인지과학 기술정책 기타 복합학

ENG

추천
검색
질문

논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
김기영 (삼성 LED) 김덕민 (숭실대학교) 김석윤 (숭실대학교)
저널정보
대한전기학회 전기학회논문지 전기학회논문지 제60권 제8호
발행연도
2011.8
수록면
1,547 - 1,554 (8page)

이용수

표지
📌
연구주제
📖
연구배경
🔬
연구방법
🏆
연구결과
AI에게 요청하기
추천
검색
질문

이 논문의 연구 히스토리 (4)

2011

신뢰성 해석을 위한 반도체 다중연결선의 RMS 전류 추정 기법
김기영 ,  김덕민 ,  김석윤 전기학회논문지 2011.08 학술저널

2010

반도체 회로 연결선의 신뢰도 해석을 위한 전류 해석 기법
김기영 ,  임재호 ,  김석윤 전기학회논문지 2010.08 학술저널
반도체 다중연결선의 신뢰성 해석을 위한 평균 전류 추정 기술
김기영 ,  임재호 ,  김덕민 외 1명 대한전자공학회 학술대회 2010.06 학술대회자료
반도체 다중연결선의 신뢰성 해석을 위한 평균 전류 추정 기술
김기영 ,  임재호 ,  김덕민 외 1명 대한전자공학회 학술대회 2010.06 학술대회자료

초록· 키워드

오류제보하기
As process parameters scale, interconnect width are reduced rapidly while the current flowing through interconnects does not decrease in a proportional manner. This effect increases current density in metal interconnects which may result in poor reliability. Since RMS(root-mean-square) current limits are used to evaluate self-heating and short-time stress failures caused by high-current pluses, RMS current estimation is very important to guarantee the reliability of semiconductor systems. Hence, it is critical to estimate the current limits through interconnects earlier in semiconductor design stages. The purpose of this paper is to propose a fast, yet accurate RMS current estimation technique that can offer a relatively precise estimate by using closed-form equations. The efficiency and accuracy of the proposed method have been verified through simulations using HSPICE for a vast range of interconnect parameters.
#Interconnect #RMS currents #RC modeling #Circuit moments

목차

Abstract
1. 서론
2. 단일 연결선에서의 RMS 전류 해석 기술
3. 제안하는 다중 연결선에서의 RMS 전류 해석 기술
4. 실험 및 결과
5. 결론
감사의 글
참고문헌
저자소개

참고문헌 (1)

참고문헌 신청
김기영, 임재호, 김석윤. 반도체 회로 연결선의 신뢰도 해석을 위한 전류 해석 기법. 전기학회논문지. 2010 dbpia

이 논문의 저자 정보

이 논문과 함께 이용한 논문

RMS(Root Mean Square) 기법을 적용한 전력품질 감시 방법
노재근 ,  양항준 대한전기학회 학술대회 논문집 2010 .11
단상 계통연계형 인버터의 SRF-PLL 옵셋 오차로 인한 전류 맥동 저감에 관한 연구
황선환 ,  황영기 ,  권순걸 조명·전기설비학회논문지 2014 .11
평균 제곱 투영 오차의 기울기에 기반한 가변 망각 인자 FAPI 알고리즘
서영광 ,  신종우 ,  서원기 외 1명 전자공학회논문지 2014 .05
다중 켑스트럼 추출 및 RMS 진폭 방식을 적용한 음성합성 알고리즘
최재승 한국정보기술학회논문지 2013 .06
The RMS Current Stress Reduction Technique in Link Capacitor of Two-stage AC/DC Converter
Du-Hee Jang ,  Cheol-Hee Yoo ,  Dong-Sung Oh 외 2명 ICPE(ISPE)논문집 2011 .05

최근 본 자료

전체보기

댓글(0)

0

UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2013-560-000500234