디자인패턴 기반 EJB Bean 클래스의 MIF와 CF의 측정에 관한 연구

이돈양; 신재준; 송영재

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자료유형: 학술대회자료

저자정보: 이돈양 (경희대학교) 신재준 (경희대학교) 송영재 (경희대학교)

저널정보: 대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 대한전자공학회 2003년 하계종합학술대회

발행연도: 2003.7

수록면: 1,613 - 1,616 (4page)

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UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2013-569-000895506

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