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논문 기본 정보

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저자정보
이석희 (단국대학교) 조갑제 (단국대학교) 방성일 (단국대학교)
저널정보
대한전자공학회 전자공학회논문지-TC 電子工學會論文誌 第49卷 TC編 第1號
발행연도
2012.1
수록면
47 - 52 (6page)

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전력증폭기는 기지국의 효율을 결정하는 중요한 요소이며, 효율성 제고를 위하여 GaN증폭소자를 사용한 Doherty 전력증폭기 구조에 대한 연구가 지속되고 있다. Doherty 전력증폭기의 메모리 효과는 선형성과 효율특성과 연관된 동작특성에 큰 영향을 미친다. 본 논문에서는 GaN Doherty 전력증폭기의 전열적인 비선형성 모델링과 전열적 메모리 효과가 GaN Doherty 증폭기의 왜곡형성과 보상에 대하여 연구하였다. GaN Doherty 증폭기의 전열적 메모리 특성을 모델링하기 위하여 순시적으로 소모되는 전력과 순시 접합온도의 정확한 관계식을 정립하였다. 제안된 모델의 파라미터로부터 GaN Doherty 전력증폭기의 비선형왜곡과 전열적 메모리 효과를 보상할 수 있는 전치왜곡선형화기 모델을 설계하였다. 제안된 모델의 성능평가는 37㏈m GaN Doherty 전력증폭기와 ADS Tool을 사용하여 왜곡특성 성능개선정도를 검증하였다. 선형화된 GaN 전력증폭기의 2-tone 출력스펙트럼에서 약 16 ㏈의 왜곡개선효과를 보였다.

목차

Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 메모리 효과의 전열적 특성
Ⅲ. GaN Doherty 증폭기의 메모리 효과 모델링
Ⅳ. 전치왜곡 선형화기 설계 및 결과 고찰
Ⅴ. 결론
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