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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 발행연도
- 2006.10
- 수록면
- 297 - 300 (4page)
이용수
이 논문의 연구 히스토리 (5)
2008
An Effective Test and Diagnosis Algorithm for Dual-Port Memories
Youngkyu Pa
,
k
,
Myung-Hoon Yang
외 3명
[ETRI] ETRI Journal
2008.08
학술저널
An Efficient BIST Architecture for Embedded RAMs
Youngkyu Pa
,
k
,
Jaeseok Pa
외 2명
ICEIC : International Conference on Electronics, Informations and Communications
2008.06
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목차
Abstract
1 Introduction
2 Previous Works
3 Test Algorithm and Fault Dictionary
4 Diagnostic Algorithm
5 Diagnostic Pattern
6 Performance evaluation
7 Conclusion
References
참고문헌 (0)
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[ETRI] ETRI Journal
2008 .08
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An Efficient BIST Architecture for Embedded Dual-Port Memories
대한전자공학회 ISOCC
2007 .10
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Testing High Density 3-D Memories
대한전자공학회 ISOCC
2005 .10
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내장된 이중-포트 메모리의 효율적인 테스트 방법에 관한 연구 ( A Study on Efficient Test Methodologies on Dual-port Embedded Memories )
전자공학회논문지-C
1999 .08
-
Test Patterns for Random Access Memories
TENCON 87 - Computers and Communications Technology Toward 2000
1997 .01
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Integration Process and Reliability for SrBi₂ Ta₂O9-based Ferroelectric Memories
JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE
2001 .09
-
My Memories & Reflection on My Research Activity for Fifty Years
대한전자공학회 세미나
1996 .01
-
A New Test Algorithm for High - Density Memories
대한전자공학회 학술대회
2000 .11
-
이중 포트 메모리를 위한 효과적인 테스트와 진단 알고리듬
전자공학회논문지-SD
2004 .05
-
실리콘 질화막 기반 저항 변화 메모리의 전압 의존적 저항 변화 특성 모델링
대한전자공학회 학술대회
2018 .06
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Testing of Memories with Tolerable Defects
International Conference on Electronics, Informations and Communications
1991 .01
-
Design of CPU Cache Memories
TENCON 87 - Computers and Communications Technology Toward 2000
1997 .01
-
An Effective Testing Algorithm for Memories Having Resistive Shorts and Opens
ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications
1996 .01
-
공간적 기억의 재구축
건축
2010 .08
-
Ferroelectric Thin films for Non-volatile Memories
한국재료학회 학술발표대회
1995 .01
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장소의 기억과 문화도시
도시정보
2020 .06
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비디오 질의응답을 위한 듀얼 심층 메모리
한국정보과학회 학술발표논문집
2015 .12
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A Built-In Testing for Dual-Port RAMs
JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications
1993 .01
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An Efficient Built-In Self-Test Algorithm for Neighborhood Pattern- and Bit-Line-Sensitive Faults in High-Density Memories
[ETRI] ETRI Journal
2004 .12
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Dynamic Data Migration in Hybrid Main Memories for In-Memory Big Data Storage
[ETRI] ETRI Journal
2014 .12
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