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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2012.2
- 수록면
- 23 - 30 (8page)
이용수
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본 논문에서는 음 바이어스 온도 불안정성 (NBTI) 효과에 의해서 야기되는 파워 게이팅 구조의 성능 저하와 증가하는 기상시간을 보상하기위한 새로운 적응형 헤더기반의 파워 게이팅 구조를 제안한다. 제안된 구조는 두 개의 패스 (two-pass)를 가지는 파워 게이팅 구조에 기반을 둔 폭 변화 헤더(header)와 적응형 제어를 위한 새로운 NBTI 센싱 회로로 구성된다. 본 논문의 시뮬레이션 결과는 적응형 제어를 하지 않는 파워 게이팅의 시뮬레이션 결과와 비교되며, 그 결과는 파워 게이팅 구조에서 누설 전력과 돌입 전류(rush current)을 작게 유지하면서 회로 지연과 기상시간에 대한 NBTI 의존성이 단지 3%와 4% 내로 줄어든다는 것을 보여준다. 본 논문에서는 45nm CMOS 공정과 NBTI 예측 모델이 제안된 회로를 구성하기 위해서 사용된다.
목차
요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. NBTI 노화 현상
Ⅲ. 파워게이팅에 대한 NBTI의 영향
Ⅳ. 적응형 NBTI 파워게이팅 구조
Ⅴ. 실험
Ⅵ. 결론
참고문헌
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참고문헌 (13)
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1. [학술대회논문] - K. Shi / 2006 / Challenges in sleep transistor design and implementation in low-power designs / in Proc. IEEE Design Automation Conf : 113 ~ 116
2. [학술지(정기간행물)] - M. Anis / 2003 / Design and optimization of multi-threshold CMOS (MTCMOS) circuits / IEEE Tran. on CAD of Integrated Circuits and Systems 22 (10) : 1324 ~ 1242
3. [학술지(정기간행물)] - 이형욱 / 2008 / Power-Gating Structure with Virtual Power-Rail Monitoring Mechanism / JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE 8 (2) : 134 ~ 138
4. [학술지(정기간행물)] - 호원준 / 2006 / 새로운 BEOL 공정을 이용한 NBTI 수명시간 개선 / 전자공학회논문지 - SD 43 (3) : 9 ~ 14
5. [학술대회논문] - J. W. McPherson / 2006 / Reliability challenges for 45nm and beyond / Proc. of IEEE Design Automation Conf : 176 ~ 181
2. [학술지(정기간행물)] - M. Anis / 2003 / Design and optimization of multi-threshold CMOS (MTCMOS) circuits / IEEE Tran. on CAD of Integrated Circuits and Systems 22 (10) : 1324 ~ 1242
3. [학술지(정기간행물)] - 이형욱 / 2008 / Power-Gating Structure with Virtual Power-Rail Monitoring Mechanism / JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE 8 (2) : 134 ~ 138
4. [학술지(정기간행물)] - 호원준 / 2006 / 새로운 BEOL 공정을 이용한 NBTI 수명시간 개선 / 전자공학회논문지 - SD 43 (3) : 9 ~ 14
5. [학술대회논문] - J. W. McPherson / 2006 / Reliability challenges for 45nm and beyond / Proc. of IEEE Design Automation Conf : 176 ~ 181
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