The Impact of Gate Leakage Current on PLL in 65 ㎚ Technology : Analysis and Optimization :Analysis and Optimization

Jing Li; Ning Ning; Ling Du; Qi Yu; Yang Liu

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저자정보: Jing Li (University of Electronic Science and Technology) Ning Ning (University of Electronic Science and Technology) Ling Du (University of Electronic Science and Technology) Qi Yu (University of Electronic Science and Technology) Yang Liu (University of Electronic Science and Technology)

저널정보: 대한전자공학회 JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE Journal of Semiconductor Technology and Science Vol.12 No.1

발행연도: 2012.3

수록면: 99 - 106 (8page)

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For CMOS technology of 65 nm and beyond, the gate leakage current can not be negligible anymore. In this paper, the impact of the gate leakage current in ring voltage-controlled oscillator (VCO) on phaselocked loop (PLL) is analyzed and modeled. A voltage-to-voltage (V-to-V) circuit is proposed to reduce the voltage ripple on Vctrl induced by the gate leakage current. The side effects induced by the V-to-V circuit are described and optimized either. The PLL design is based on a standard 65 ㎚ CMOS technology with a 1.8 V power supply. Simulation results show that 97 % ripple voltage is smoothed at 216 ㎒ output frequency. The RMS and peak-to-peak jitter are 3 ps and 14.8 ps, respectively

#Phase-locked loop #jitter #ring voltagecontrolled oscillator #voltage-to-voltage circuit #gate leakage current

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Jing Li

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Ning Ning

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Ling Du

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Qi Yu

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Yang Liu

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상세 메타 데이터	발행기관 메타	발행기관 이명, 영문명, 창립연도, 홈페이지URL, 발행기관 소개
	간행물 메타	부제목, 간행물 유형, ISSN, ISBN, 최초발행연도, 폐간연도, 간행빈도, 발행주기, 등재사항, 이용수, 피인용수, 권호수, 논문수, 표지이미지
	논문 메타	작성 언어, 부제목, 대등제목, 목차, 키워드, 초록, 이미지, 참고문헌, 이용수, 피인용수, 논문활용도, DBpia통합주제분류, KDC분류, DDC분류, 한국연구재단분류, UCI, DOI
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