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반도체와 전자부품의 코팅제로 사용되는, 특히 LCD와 PDP 커넥터주위의 보호를 위해 사용되는 폴리실록산(시편)의 흐름성(flow) 및 퍼짐성(self-leveling)을 측정할 수 있는 시험 장치가 고안되었고, 점도가 각기 다른 실록산 폴리머 견본들을 이용하여 고안된 시험장치를 시험하였다. 이 장치를 사용하여 시편의 흐름성 및 퍼짐성을 측정한 결과, 이 장치가 점도를 통해 흐름성 및 퍼짐성을 예측하던 것을 대신 할 수 있다고 판단되었다. 특히, 흐름성이 적절히 조절되어야만 하는 LCD, PDP 및 반도체 커넥션 보호 코팅제의 특성 평가에 유용하게 활용될 것으로 기대된다.
목차
요약
Abstract
1. 서론
2. 시험 장치 및 실험 방법
3. 실험 결과 및 고찰
4. 결론
감사의 글
참고문헌
참고문헌 (17)
참고문헌 신청
1. [기타자료] - 김철현 / 2011 / 대한민국 특허 출원번호 10-2011-0022216
2. [학술대회논문] - C. H. Kim / 2010 / / The 1st International Symposium on Applied Silicon Chemistry, Yonsei University Advanced Silicon Center
3. [기타자료] - 김철현 / / 대한민국 특허 등록번호 10-0982161
4. [기타자료] - 김철현 / 2010 / 대한민국 특허 출원번호 10-2010-0001308
5. [기타자료] - 김철현 / 2011 / 대한민국 특허 출원번호 10-2011-0007098
2. [학술대회논문] - C. H. Kim / 2010 / / The 1st International Symposium on Applied Silicon Chemistry, Yonsei University Advanced Silicon Center
3. [기타자료] - 김철현 / / 대한민국 특허 등록번호 10-0982161
4. [기타자료] - 김철현 / 2010 / 대한민국 특허 출원번호 10-2010-0001308
5. [기타자료] - 김철현 / 2011 / 대한민국 특허 출원번호 10-2011-0007098
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