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복잡한 전극 구조를 갖는 TFT-LCD 패널의 픽셀 사이의 간섭효과를 고려하여 액정에서의 공간 전기장 분포를 정밀하게 예측할 수 있는 멀티 픽셀 기반의 3차원 유한요소 수치해석 모델을 구축하였다. 이를 토대로 패널 내 다양한 전극 불량 조건에 대한 액정에서의 공간 전기장 분포 특성을 정상 상태와 비교 분석 하였다. 이러한 수치모사 결과와 기존 광학적 패널 검사장비의 불량검출 결과를 간접 비교함으로써 제안한 3차원 유한요소 수치모델의 타당성을 검증하였다.
목차
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 3차원 수치모델
Ⅲ. 모의시험 결과
Ⅳ. 결론
감사의 글
참고문헌
참고문헌 (8)
참고문헌 신청
1. [학술대회논문] - J. Jang / 2002 / / Proceedings of the IEEE 90 : 501 ~
2. [학술지(정기간행물)] - L.-F. Chen / 2009 / / Electronics Packaging Manufacturing 32 : 1 ~
3. [보고서] - M. Kitamura / 1995 / Society for Imformation Display : 540 ~
4. [학술지(정기간행물)] - Fabrizio Di Pasquale / 1996 / / IEEE Journal of Selected Topics in Quantum Electronics 2 : 128 ~
5. [학술지(정기간행물)] - Ruibo Lu / 2005 / / Journal of Display Technology 1 : 207 ~
2. [학술지(정기간행물)] - L.-F. Chen / 2009 / / Electronics Packaging Manufacturing 32 : 1 ~
3. [보고서] - M. Kitamura / 1995 / Society for Imformation Display : 540 ~
4. [학술지(정기간행물)] - Fabrizio Di Pasquale / 1996 / / IEEE Journal of Selected Topics in Quantum Electronics 2 : 128 ~
5. [학술지(정기간행물)] - Ruibo Lu / 2005 / / Journal of Display Technology 1 : 207 ~
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