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논문 기본 정보

자료유형
학술대회자료
저자정보
김준석 (고려대학교) 이재현 (이랜드) 백준걸 (고려대학교) 김성식 (고려대학교)
저널정보
대한산업공학회 대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집 2009년 대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집
발행연도
2009.5
수록면
1,316 - 1,323 (8page)

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

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A real-time fault detection method using wavelet tranform is proposed in this paper. First, de-noised signals are obtained by wavelet noise reduction method. Next, wavelet coefficients that well reflect the process condition are selected by comparing de-noised signals to original signals and statistical process control (SPC) charts of each coefficient and Hotelling’ T2 chart are constructed for monitoring the process condition. With these charts, faults are detected during the process is in activation and after completion of the process. In addition, identification of the location and the type of the detected fault is possible. For performance evaluation, various types of abnormal process conditions are simulated and the proposed algorithm is compared with other methodologies.

목차

Abstract
1. 서론
2. 기존 연구의 고찰
3. 웨이블릿 변환(Wavelet Transform)
3. 웨이블릿을 이용한 이상 탐지 알고리즘
4. 실험 및 성능 평가
5. 결론 및 추후 연구
참고문헌

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