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논문 기본 정보

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학술저널
저자정보
홍종기 (한국교통대) 허정일 (한국교통대) 남석호 (한국교통대) 강형구 (한국교통대)
저널정보
대한전기학회 전기학회논문지 P 전기학회논문지 제61P권 제4호
발행연도
2012.12
수록면
220 - 224 (5page)

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The analysis on the bus bar effect is conducted to develop a cost effective 24kV/2,000A switchgear. The temperature enclosures and bus bars could rise due to several heat sources such as eddy current losses and copper losses. Therefore, a study on the characteristics of the electric field intensity and electromagnetic loss according to the bus bar size in a bus bar compartment is essential to design a electrically reliable high voltage switchgear. It is investigated that the electromagnetic influence to the temperature rising and the dielectric stability according to various bus bar sizes by using finite element method(FEM). The electric field intensity and electromagnetic loss according to various bus bar sizes are calculated to design a reliable and a high voltage switchgear. As results, it is found that the electromagnetic loss and the dielectric stability of bus bar could be determined by a bus bar size. It means that a cost effective 24kV/2,000A high voltage switchgear could be developed by selecting the proper size of a bus bar. Also, it is recognized that the electromagnetic characteristics according to various bus bar sizes in order to design an electrically stable high voltage switchgear when the enclosure size is determined as a fixed value. Futhermore, studies on the various nominal voltage class and bus bar sizes will be conducted to develop a cost effective high voltage switchgear.
#Bus bar #Copper losses #Electromagnetic loss #Finite element method #High voltage switchgear

목차

Abstract
1. 서론
2. Bus bar 사이즈에 따른 전·자기 손실해석
3. 전·자기 손실 해석 결과 및 분석
4. 결론
참고문헌

참고문헌 (5)

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