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지표면의 후방 산란 계수를 계산하는 지표면 산란 모델의 입력 변수로는 크게 수분함유량과 지표면 거칠기가 있고, 산란 계수 계산에 있어 지표면 거칠기의 영향이 수분함유량의 영향보다 크다. 본 연구에서는 지표면 거칠기의 정확한 측정 방법을 제기하고, 측정 오차를 분석한다. 이를 위하여 대표적인 지표면 거칠기 측정 장치인 pin-board profiler(1 m, 0.5 ㎝ 간격)와 laser profiler(1 m, 0.25 ㎝ 간격)를 이용하여 실제 지표면을 측정하였다. 두 측정 장치의 평균 차이는 유효 높이(RMS height)가 0.097 ㎝, 상관 길이(correlation length)가 1.828 ㎝이었다. 그리고 상관 함수, 상대오차를 분석한 결과, laser-profiler의 반복 측정에 대한 장치의 안전성이 더 좋았다. 두 측정 장치의 차이가 후방 산란 계수에 미치는 영향을 분석하기 위해 지표면 산란 모델을 이용하여 비교한 결과, 입사각 20～60°에서 1 ㏈ 이하의 차이를 보였다.
목차
요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 지표면 거칠기 변수와 측정 장치 비교
Ⅲ. 지표면 거칠기 측정
Ⅳ. 지표면 거칠기 오차 분석
Ⅴ. 결론
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참고문헌
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1. [단행본] - F. T. Ulaby / 1982 / Microwave Remote Sensing: Active and Passive / Artech House
2. [학술지(정기간행물)] - Y. Oh / 1998 / Condition for precise measurement of soil surface rughness / IEEE Trans. Geosci. Remote Sensing 36 (2) : 691 ~ 695
3. [학술지(정기간행물)] - N. Baghdadi / 2010 / Relationship between profile length and roughness variables for natural surfaces / International Journal of Remote Sensing 21 (17) : 3375 ~ 3381
4. [학술지(정기간행물)] - Y. Oh / 2007 / Effect of surface profile length on the backscattering coefficients of bare surfaces / IEEE Trans. Geosci. Remote Sensing 45 (3) : 632 ~ 638
5. [학술지(정기간행물)] - M. W. J. Davidson / 2003 / Joint statistical properties of RMS height and correlation length derived from multisite 1-m roughness measurements / IEEE Trans. Geosci. Remote Sensing 41 (7) : 1651 ~ 1658
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5. [학술지(정기간행물)] - M. W. J. Davidson / 2003 / Joint statistical properties of RMS height and correlation length derived from multisite 1-m roughness measurements / IEEE Trans. Geosci. Remote Sensing 41 (7) : 1651 ~ 1658
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