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학술대회자료
저자정보
조영준 (한국항공우주연구원) 이상곤 (한국항공우주연구원)
저널정보
한국항공우주학회 한국항공우주학회 학술발표회 초록집 한국항공우주학회 2012년도 추계학술대회
발행연도
2012.11
수록면
2,180 - 2,183 (4page)

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위성의 전자장비에 사용되는 반도체 부품들은 우주방사선에 의해 단기적 또는 장기적, 파괴 또는 비 파괴특성의 성능영향을 받는다. 이 중 SEE(Single Event Effects)로 알려진 많은 효과들에 의해 기능상의 치명적인 오류가 발생될 수 있으므로 이에 대한 예측 및 대비가 필요하다. 또한, 부품의 SEE에 의한 에러 발생률은 위성의 임무 궤도에서의 우주방사선 환경에 따라 달라지므로 임무궤도환경에 따른 분석이 필요하다. 본 논문에서는 정지궤도급 위성응용을 대상으로 반도체 능동 부품의 SEE 특성을 모델링하고 이를 통해 SEE 발생률을 예측하여 부품별 통제를 위한 방사선 내성을 분석하였다.
#Single Event Effects(SEE) #Error Rate(에러율) #Heavy ion(중이온) #Linear Energy Transfer(LET) #Rectangular Parallelepiped Model(RPP 모델) #Sensitive Volume(민감영역) #Cross-section(크로스섹션)

목차

초록
ABSTRACT
1. 서론
2. 능동 부품 특성별 SEE 발생률 예측 및 결과 분석
3. 결론
참고문헌

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