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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
Seong Keol Kim (Seoul National University of Science and Technology) Chong-Min Jang (Seoul National University of Science and Technology) Jung-Min Hwang (Seoul National University of Science and Technology) Man-Chul Park (Seoul National University of Science and Technology)
저널정보
한국생산제조학회 한국생산제조학회지 한국생산제조시스템학회지 Vol.22 No.1
발행연도
2013.2
수록면
168 - 172 (5page)

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

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In 3D wafer-stacking technology, one of the major issues is wafer warpage. Especially, The important reason of warpage has been known due to CTE(Coefficient of Thermal Expansion) mismatch between materials. It was too hard to choose how to make the FE model for blanket structured wafer level 3D packaging, because the thickness of each layer in wafer level 3D packaging was too small (micro meter or nano meter scale) comparing with diameter of wafer (6 or 8 inches). In this study, the FE model using the shell element was selected and simulated by the ANSYS WorkBench to investigate effects of the CTE on the warpage. To verify the FE model, it was compared by experimental results.

목차

1. Introduction
2. Experiments
3. Modeling and Simulations
4. Conclusion
REFERENCES

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