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논문 기본 정보

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학술저널
저자정보
곽상근 (성균관대학교) 김소영 (성균관대학교)
저널정보
한국전자파학회 한국전자파학회논문지 韓國電磁波學會論文誌 第24卷 第4號
발행연도
2013.4
수록면
436 - 447 (12page)

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본 논문에서는 IC(Integrated Circuit) 전자파 전도내성 시험 방법인 BCI(Bulk Current Injection)와 DPI(Direct Power Injection)를 이용하여 1.8 V I/O 버퍼에 대한 IC 전자파 전도내성을 시험하였다. IC 전자파 전도내성 시험을 회로 해석기를 사용하여 시뮬레이션 할 수 있는 등가회로 모델(model)을 개발하고 검증하였다. BCI와 DPI의 주파수에 따른 forward 전력을 비교한 결과는 주파수 성분에 따라 실제 IC에 도달하는 전자파(electromagnetic, EM) 노이즈의 양이 제한됨을 보여준다. 시뮬레이션을 통해, 가해지는 RF(Radio Frequency) 노이즈가 전달되는 경로의 삽입손실을 구하여, 하나의 시험 방법만으로는 넓은 주파수 영역에서 실질적인 IC 전자파 내성시험의 어려움을 발견하였다. 따라서 규정된 시험 방법을 보완하여 넓은 주파수 영역의 노이즈에 대해 신뢰도 높은 IC 전자파 전도내성 시험 방법을 제안한다.
#Electromagnetic Conducted Immunity #Equivalent Circuit Model

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. IC 전자파 전도내성 시험 방법
Ⅲ. 전자파 전도내성 결과 분석
Ⅳ. 결론
참고문헌

참고문헌 (14)

참고문헌 신청
1. [기타자료] - / 1996 / IET Electrical Measurement Series 8, A Handbook for EMC Testing and Measurement / United Kingdom google schola 2. [기타자료] - IEC / / 62132, Ed.1: Integrated Circuit-Measurements of electromagnetic Immunity - 150 kHz to 1 GHz google schola 3. [기타자료] - IEC / / 62132-3, Ed.1: Integrated Circuit - Measurements of Electromagnetic Immunity - 150 kHz to 1 GHz, Part 3: Bulk Current Injection (BCI) Method google schola 4. [기타자료] - IEC / / 62132-4, Ed.1: Integrated Circuit - Measurements of Electromagnetic Immunity - 150 kHz to 1 GHz, Part 4: Direct RF Power Injection(DPI) Method google schola 5. [기타자료] - AN10897 / 2010 / A Guide to Designing for ESD and EMC / NXP google schola

이 논문의 저자 정보

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