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금속 재료의 비선형 파라미터는 고유한 물성치로서 기본주파수의 음압의 크기(A₁)과 2차고조파의 음압의 크기(A₂)을 측정하면 산정할 수 있다. 하지만, 실험적으로 A₁ 과 A₂를 측정하는 것은 매우 복잡한 변환 과정이 필요하기 때문에 현재 많은 연구자들이 비선형 파라미터의 절대값을 측정하지 않고, 전압 변화를 관찰하는 비선형 파라미터의 상대값을 측정하고 있다. 하지만, 비선형 파라미터 상대값으로는 재료의 물성치를 대변할 수가 없기 때문에, 열화도에 따른 시편 측정에만 사용할 수 있는 제약이 있다. 따라서 본 연구에서는 정전용량 측정기법(capacitive detector)보다는 비용이 적게 소모되고 현장 적용이 가능한 압전형 수신기법(piezoelectric detection)을 이용하여 비선형 파라미터의 절대값을 측정하기 위한 시스템을 구축하였다. A₁<SUP>2</SUP>vs A₂ 그래프로 시스템의 선형성을 검증하고 시험편인 fused silica와 Al2024-T4에 대한 비선형 파라미터를 측정하였다.
목차
초록
Abstract
1. 서론
2. 비선형초음파 이론
3. 실험
4. 실험결과 및 고찰
5. 결론
참고문헌
참고문헌 (17)
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1. [학술지(정기간행물)] - M. A. Breazeale / 1963 / Finiteamplitude ultrasonic waves in aluminum / Applied Physics Letters 3 (5) : 77 ~ 78
2. [학술지(정기간행물)] - M. A. Breazeale / 1965 / Ultrasonic studies of the nonlinear behavior of solids / Journal of Applied Physics 36 (11) : 3486 ~ 3490
3. [학술지(정기간행물)] - W. B. Gauster / 1966 / Detector for measurement of ultrasonic strain amplitudes in solids / Review of Scientific Instruments 37 (11) : 1544 ~ 1548
4. [학술지(정기간행물)] - G. E. Dace / 1992 / Measurement of the acoustic harmonic generation for materials characterization using contact transducers / Review of Progress Quantitative Nondestructive Evaluation 11 : 2069 ~ 2076
5. [학술지(정기간행물)] - D. C. Hurely / 1997 / Ultrasonic parameter using a Michelson interferometer / Measurement Science and Technology 8 : 634 ~ 642
2. [학술지(정기간행물)] - M. A. Breazeale / 1965 / Ultrasonic studies of the nonlinear behavior of solids / Journal of Applied Physics 36 (11) : 3486 ~ 3490
3. [학술지(정기간행물)] - W. B. Gauster / 1966 / Detector for measurement of ultrasonic strain amplitudes in solids / Review of Scientific Instruments 37 (11) : 1544 ~ 1548
4. [학술지(정기간행물)] - G. E. Dace / 1992 / Measurement of the acoustic harmonic generation for materials characterization using contact transducers / Review of Progress Quantitative Nondestructive Evaluation 11 : 2069 ~ 2076
5. [학술지(정기간행물)] - D. C. Hurely / 1997 / Ultrasonic parameter using a Michelson interferometer / Measurement Science and Technology 8 : 634 ~ 642
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