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논문 기본 정보

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학술저널
저자정보
황순미 (전자부품연구원) 정용백 (전자부품연구원) 김철희 (전자부품연구원) 이관훈 (전자부품연구원)
저널정보
한국신뢰성학회 신뢰성응용연구 신뢰성응용연구 제11권 제3호
발행연도
2011.9
수록면
251 - 265 (15page)

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Low-noise amplifier(LNA) is a component that amplifies the signal while lowering the noise figure of high-frequency signal. LNA holds a very important position in RF system so that it is widely used for telecommunication. Electro static discharge(ESD) is the most common cause of malfunction for low-powered components, such as Large Scale Integration and IC type LNA is weak in ESD. This thesis studies static effect of communication LNA. It analyzes ESD effect, which occurs within LNA circuit, and describes testing standard and methods. In order to find out LNA"s susceptiblity to electro static, two well-recognized communication IC type LNA models were selected to be tested. Then static-induced malfunction was carefully analyzed and it suggests architectural problem and improvement from the LNA"s ESD point of view.

목차

Abstract
1. 서론
2. 집적회로에서의 정전기 영향
3. 정전기 시험 규격 및 시험 방법
4. 정전기 시험 결과
5. 정전기 대책
6. 결론
참고문헌

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