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논문 기본 정보

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학술저널
저자정보
조상현 (가톨릭대학교) 강행봉 (가톨릭대학교)
저널정보
한국방송·미디어공학회 방송공학회논문지 방송공학회논문지 제18권 제4호
발행연도
2013.7
수록면
525 - 534 (10page)

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최근 다양한 형태의 TFT-LCD의 수요가 증가함에 따라 LCD 생산 과정에서 얼룩결함을 검사하는 기술에 대한 관심이 높아지고 있다. 본 논문에서는 가버 웨이블렛 변환(Gabor wavelet transform) 및 이산 코사인 변환(Discrete Cosine Transform, DCT)을 이용한 TFT-LCD 패널의 얼룩(mura)을 자동으로 검출하는 방법을 제안한다. 제안한 방법은 DCT 변환 기반의 TFT-LCD 패널 영상의 참조패널 영상을 생성한다. 원 영상과 생성된 참조 패널 영상에 대해서 실수 가버 웨이블렛 변환(real gabor wavelet transform)을 적용하여 패널 영상에 포함되어 있는 얼룩 결함을 검출하는데 방해가 되는 텍스쳐 정보를 제거하고 변환 영상간의 차영상을 이용하여 제거결함 영역을 추출한다. 추출된 영역에 대해서는 정량적 평가 과정을 통해 보다 정확한 얼룩 검출을 수행한다. 실험결과는 제안한 방법이 기존의 방법에 비해 보다 정확하고 효율적으로 얼룩을 검출하는 것을 보여준다.
#Mura defects #LCD inspection #automatic optical inspection #TFT-LCD #DCT

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 가버 필터 및 DCT를 이용한 LCD 패널 얼룩 검출
Ⅲ. 실험 결과
Ⅳ. 결론
참고문헌
저자소개

참고문헌 (13)

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1. [학술대회논문] - S.-H. Chen / 2006 / Automatic inspection of mura defect in color filter / Proc. of INFORMS Int. Conf,, Hong Kong, China google schola 2. [학술지(정기간행물)] - J.H.Oh / 2004 / Line defect detection in TFT-LCD using directional filter bank and adaptive multilevel thresholding / Key Engineering Materials 270-273 : 223 ~ 238 google schola 3. [학술대회논문] - H.Nakano / 2005 / Measurement method for low-contrast nonuniformity in liquid crystal displays by using multi-wavelet analysis / SPIE Conf. on Optical Diagnostics，Bellingham，WA : 588013-1 ~ 588013-6 google schola 4. [학술지(정기간행물)] - Y. Song / 2004 / Morphological Blob-Mura Defect Detection Method for TFT-LCD Panel Inspection / Lecture Notes in Artificial Intelligence 3215 : 862 ~ 868 google schola 5. [학술지(정기간행물)] - J. Y. Lee / 2004 / Automatic detection of Region-Mura defect in TFT-LCD / IEICE Trans. Inform. Syst. E87-D (10) : 2371 ~ 2378 google schola

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