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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
황진하 (Pusan National University) 곽태수 (Gyeongnam National Univ. of Sci. and Tech.) 이득우 (Pusan National Univ.) 정명원 (Gyeongnam National Univ. of Sci. and Tech.) 이상민 (Pusan National University)
저널정보
한국기계가공학회 한국기계가공학회지 한국기계가공학회지 제12권 제4호
발행연도
2013.8
수록면
75 - 80 (6page)

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Single crystal sapphire being used in high technology industry is a brittle material with a high hardness and excellent physical properties. ELID(Electrolytic In-Process Dressing) grinding technology was applied to material removal machining process of single crystal sapphire wafer. Ultrasonic vibration which added to material using ultrasonic table was adopted to efficient ELID grinding of sapphire materials. The evaluation of the ground surface of single crystal sapphire wafer was carried out by means of surface measuring by using AFM(Atomic Force Microscope), surface roughness tester and optical microscope device. As the results of experiment, it was shown that more efficient grinding was conducted when using ultrasonic table. In case of using #170 grinding wheel, surface roughness of ELID ground specimen in using ultrasonic table was superior to ELID ground specimen without ultrasonic table. However, In case of using #2000 grinding wheel, surface roughness of ELID ground specimen in using ultrasonic table was inferior to ELID ground specimen without ultrasonic table.

목차

ABSTRACT
1. 서론
2. 실험 장치 및 방법
3. 실험 결과
4. 결론
REFERENCES

참고문헌 (11)

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