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논문 기본 정보

자료유형
학술대회자료
저자정보
신석산 (한양대학교) 함형진 (한양대학교) 이형철 (한양대학교)
저널정보
한국자동차공학회 한국자동차공학회 추계학술대회 및 전시회 2013년 한국자동차공학회 학술대회 및 전시회
발행연도
2013.11
수록면
792 - 798 (7page)

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

2015

DC-link 필름 커패시터에 대한 수명 시험 기간 최적화 연구
신석산 전기공 2015.01 학위논문

2013

통계적 방법을 이용한 DC-link 필름 커패시터의 수명 예측
신석산 ,  함형진 ,  이형철 한국자동차공학회 추계학술대회 및 전시회 2013.11 학술대회자료

초록· 키워드

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In electronic vehicles (EVs) or hybrid electronic vehicles (HEVs), an inverter system has a DC-link capacitor to buffer the high frequency current. A film capacitor has been used as the DC-link capacitor in high level power system. The performance of the film capacitor has deteriorated over operating time. This can be one of critical factors in the EVs and HEVs. For this reason, the lifetime and reliability of the film capacitor are key factors to show the stability of the vehicle inverter system. Therefore, a lot of methods to predict the lifetime of the film capacitor using physical or chemical equations have been researched. However, these researches have a problem about robustness of uncertainty. In this paper, the lifetime and stability of the film capacitor are guaranteed by stochastic methods. A new model combined by random variable deterioration model and gamma process deterioration model to consider natural and sudden loss of the film capacitor is proposed. the parameters of each model are obtained by using curve fitting algorithm and method of moment. Using these models and algorithms, the lifetime of the film capacitor is predicted. Comparing experiment result and the proposed prediction model proves the proposed method has good accuracy.
#DC-link 커패시터 #인버터 #필름 커패시터 #확률 변수 저하 모델 #감마 과정 저하 모델 #모멘트법

목차

Abstract
1. 서론
2. 본론
3. 결론
References

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