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저자정보
Yu-Jin Yun (Yonsei University) Jong-Hyun Bae (Yonsei University) Jae-Seok Kim (Yonsei University)
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 2011년도 대한전자공학회 하계종합학술대회
발행연도
2011.6
수록면
654 - 657 (4page)

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This paper proposes an adaptive patch selection method for a deblurring algorithm based on the variational Bayesian theory. In deblurring process, only small portion of an image is used due to the complexity issue. By searching the entire image, a patch with the most edge information is selected. Depending on the feature of each image, an appropriate shape of a patch is selected. Saturation regions and large uniform regions are avoided since they degrades blur kernel estimation process. Compared to the other methods, proposed method chooses the most proper part of an image and restores high quality images.

목차

Abstract
Ⅰ. Introduction
Ⅱ. Proposed algorithm
Ⅲ. Simulation Results
Ⅳ. Conclusion
Reference

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