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학술저널
저자정보
김태호 (성균관대학교) 김종현 (성균관대학교) 김성준 (성균관대학교) 김광호 (성균관대학교) 푸보 (성균관대학교) 나완수 (성균관대학교)
저널정보
한국전자파학회 한국전자파학회논문지 韓國電磁波學會論文誌 第25卷 第5號
발행연도
2014.5
수록면
559 - 575 (17page)

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

2014

4-포트 수평/수직 겸용 프로브용 교정키트
김태호 ,  김종현 ,  김성준 외 3명 한국전자파학회논문지 2014.05 학술저널
4-포트 수평/수직 겸용 프로브용 교정키트
김태호 전자전기컴퓨터공 2014.01 학위논문

초록· 키워드

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본 논문에서는 4-포트 수평/수직 프로브 스테이션을 사용하여 수직 커넥터 핀의 특성 측정 시 사용되는 회로망 분석기의 교정용 키트(calibration kit)를 제안한다. 기존의 수평면에서 사용되는 교정키트를 사용하면, 교정 후 프로브 암의 변경 및 추가적인 장치가 필요하며, 이로 인한 시간 소요뿐 아니라, 주변 상황에 민감한 프로브 팁의 위치 변동에 기인한 정밀도 훼손의 위험이 있다. 본 논문에서는 이를 보완할 수 있는 4-포트 수평/수직 겸용 교정키트를 제시한다. 교정은 SOLT 방법을 이용하였으며, Short, Open, Load는 수평면에서 교정하며, Thru는 프로브의 위치에 따라서 교정기판의 같은 수평면에서 교정하거나 또는 교정기판의 위쪽, 아래쪽을 수직으로 연결하여 사용할 수 있도록 설계/제작하였다. 즉, 기판에 수직한 Thru를 교정할 때에는 교정키트를 수직으로 세워 키트 양면을 사용하여 교정할 수 있는 방법을 제안하였다. 제안한 교정키트에서의 SOLT 회로 반사/전달 특성을 기존 교정키트의 SOLT 회로의 반사/전달 특성과 비교 분석하였으며, 두 교정키트의 전달 특성은 길이 보정 후, 300 kHz부터 8.5 GHz까지 약 ±0.1 dB의 차이가 있음을 확인할 수 있었다. 이와 같이 설계/제작된 4-포트 수평/수직 교정키트의 유용성을 입증하기 위하여 각각 수평 측정의 경우와 수직 측정의 경우의 두 가지 경우 사례 연구를 수행하였으며, 그 결과를 기존의 교정키트를 사용한 후 측정된 결과 데이터와 비교 분석하였다.
#4-Port Probe Station #Vertical Calibration #4-Port Calibration Kit #SOLT #Vertical Connector Pin

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 4-포트 커넥터 핀 사이의 수평/수직 프로빙
Ⅲ. 제안하는 교정키트의 디자인
Ⅳ. 제안하는 교정키트의 제작 및 특성
Ⅴ. 적용 사례 연구
Ⅵ. 결론
References

참고문헌 (11)

참고문헌 신청
2. [학술대회논문] - 나완수 / 2012 / 고속 채널 환경에서의 효율적인 인덕턴스 추출법에 관한 연구 / 2012년도 대한전기학회 하계학술대회 논문집 dbpia 3. [학술대회논문] - 나완수 / 2012 / De-embedding 기술을 이용한 비아홀 특성 분석에 관한 연구 / 2012년도 대한전기학회 하계학술대회 논문집 dbpia 4. [학술대회논문] - 김태호 / 2013 / 4-포트 커넥터 핀의커플링 효과 측정을 위한 수직형 프로빙 시스템 제작및 측정 / 2013년도 대한전기학회 하계학술대회논문집 : 1420 ~ 1421 dbpia 5. [기타자료] - Cascade Microtech Inc / 2002 / On-wafer vector network analyzer calibration and measurements / Application Note google schola 6. [단행본] - David M. Pozar / 2005 / Microwave Engineering / Wiley google schola

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UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2015-420-001563034