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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
이현철 (한국항공대학교)
저널정보
한국경영과학회 경영과학 經營科學 第31卷 第3號
발행연도
2014.11
수록면
27 - 39 (13page)

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We derive a generalized statistic form of Q control chart, which is especially suitable for short run productions and start-up processes, for the detection of process mean shifts. The generalization means that the derived control chart statistic concurrently uses within lot variability and between lot variability to explain the process variability. The latter variability source is noticeably prevalent in lot type production processes including semiconductor wafer fabrications. We first obtain the generalized Q control chart statistic when both the process mean and process variance are unknown, which represents the case of implementing statistical process control charting for short run productions and start-up processes. Also, we provide the corresponding generalized Q control chart statistics for the rest of three cases of previous Q control chart statistics:(1) both the process mean and process variance are known (2) only the process mean is unknown and (3) only the process variance is unknown.

목차

Abstract
1. 서론
2. 공정 모형 및 관련 통계량
3. Lot간 분산을 고려한 Q 관리도
4. 일반화된 Q 관리도의 적용 및 성능
5. 결론
참고문헌

참고문헌 (16)

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