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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2014.12
- 수록면
- 9 - 15 (7page)
- DOI
- 10.14801/jkiit.2014.12.12.9
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본 논문은 아날로그 집적회로의 결함을 검출할 수 있는 새로운 방식을 제안한다. 본 검사방식은 아날로그 집적회로 제작과정에서 발생하는 개방, 단락, 소폭 개방 및 소폭 단락과 같은 다양한 결함을 검출할 수 있다. 또한 그러한 결함이 집적회로 내의 트랜지스터, 저항, 인덕터, 커패시터 등으로 인한 것인지에 대한 진단이 가능하다. 이러한 방식은 공급 전원의 순시 계단 전류와 출력응답을 각각 측정하여 결함 유무를 판별한다. 본 논문에서 제안하는 검사 방식의 성능을 검증하기 위해 대표적인 아날로그 집적회로인 광대역 CMOS 연산증폭기를 설계하였다. 이러한 회로는 TSMC 0.18μm CMOS 공정을 이용하여 설계되어 있다. 본 논문에서 제안하는 방식은 회로 내의 개방, 단락, 소폭 개방 및 소폭 단락과 같은 다양한 결함들에 대해 총 80개의 시료들로부터 99% 이상의 결함 검출 능력을 보였다. 이러한 검사 방식은 검사 비용이 저렴하고 측정방법이 간단하다.
목차
요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 접근 방법
Ⅲ. 측정 결과
IV. 결론
References
참고문헌 (10)
참고문헌 신청
1. [학술지(정기간행물)] - 류지열 / 2011 / 고주파 시스템 온 칩 응용을 위한 온 칩 검사 대응 설계 회로 / 한국정보통신학회논문지 15 (3) : 632 ~ 638
2. [학술지(정기간행물)] - 최대우 / 2011 / 초미세 패턴 칩 온 필름을 위한 결함 검출 시스템 / 한국정보기술학회논문지 9 (5) : 1 ~ 8
3. [학술지(정기간행물)] - J. Y. Ryu / 2003 / Novel Defect Testing of RF Front End Using Input Matching Measurement / 9th IEEE International Mixed-Signal Testing Workshop 9 (1) : 31 ~ 34
4. [학술지(정기간행물)] - W. A. Pleskacz / 2001 / CMOS Standard Cells Characterization for Defect Based Testing / IEEE International Symposium on DFT in VLSI Systems 12 (1) : 384 ~ 392
5. [학술지(정기간행물)] - A. S. S. Vasan / 2013 / Diagnostics and Prognostics Method for Analog Electronic Circuits / IEEE Transactions on Industrial Electronics 60 (11) : 5277 ~ 5291
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5. [학술지(정기간행물)] - A. S. S. Vasan / 2013 / Diagnostics and Prognostics Method for Analog Electronic Circuits / IEEE Transactions on Industrial Electronics 60 (11) : 5277 ~ 5291
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