X-선 및 중성자 반사율 장치를 이용한 고분자 박막 구조 분석

신관우

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자료유형: 학술저널

저자정보: 신관우

저널정보: 한국고분자학회 고분자 과학과 기술 고분자과학과 기술 제15권 제6호

발행연도: 2004.12

수록면: 750 - 760 (11page)

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