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논문 기본 정보

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학술저널
저자정보
Eun-suk Park (Sogang University) Deok-keun Oh (Sogang University) Ju-ho Kim (Sogang University)
저널정보
대한전자공학회 JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE Journal of Semiconductor Technology and Science Vol.15 No.1
발행연도
2015.2
수록면
101 - 113 (13page)

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The Monte-Carlo (MC) technique is very efficient solution for statistical problem. Various MC methods can easily be applied to statistical circuit performance analysis. Recently, as the number of process parameters and their impact, has increasingly affected circuit performance, a sufficient sample size is required in order to consider high dimensionality, profound nonlinearity, and stringent accuracy requirements. Also, it is important to identify the performance of circuit as soon as possible. In this paper, Fast MC method is proposed for efficient analysis of circuit performance. The proposed method analyzes performance using enhanced-precision Latin Hypercube Sampling Monte Carlo (LHSMC). To increase the accuracy of the analysis, we calculate the effective dimension for the low discrepancy value on critical parameters. This will guarantee a robust input vector for the critical parameters. Using a 90㎚ process parameter and OP-AMP, we verified the accuracy and reliability of the proposed method in comparison with the standard MC, LHS and Quasi Monte Carlo (QMC).

목차

Abstract
Ⅰ. INTRODUCTION
Ⅱ. BACKGROUND AND RELATED WORK
Ⅲ. PROPOSED FAST MONTE CARLO
Ⅳ. EXPERIMENTAL RESULTS
Ⅴ. CONCLUSIONS
REFERENCES

참고문헌 (20)

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