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대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 대한전자공학회 학술발표회 논문집 (반도체/재료부품/CAD/VLSI) 제6권 1호
발행연도
1988.1
수록면
16 - 20 (5page)

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

1989

n-불순물 농도에 따른 N-채널 LDD 트랜지스터의 노쇠현상 ( n-Doping Density Dependent Hot-Carrier Degradation in N-Channel LDD MOSFET's )
박재관 ,  김경태 ,  신윤승 대한전자공학회 학술대회 1989.01 학술대회자료

1988

게이트와 n-드레인 OVERLAP이 N-CHANNEL LDD 트랜지스터의 노쇠현상에 미치는 영향 ( THE EFFECT OF GATE TO n-DRAIN OVERLAP ON THE DEGRADATION OF N-CHANNEL LDD TRANSISTORS )
박재관 ,  신윤승 대한전자공학회 학술대회 1988.01 학술대회자료

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