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학술대회자료
저자정보
김기태 (한양대학교) 한주희 (한양대학교) 황두찬 (한양대학교) 박성주 (한양대학교)
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 대한전자공학회 2006년도 추계학술대회 논문집Ⅱ
발행연도
2006.11
수록면
391 - 394 (4page)

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

2007

천이 지연 고장 테스트를 위한 개선된 IEEE 1500 래퍼 셀 및 인터페이스 회로 설계
김기태 ,  이현빈 ,  김진규 외 1명 전자공학회논문지-SD 2007.11 학술저널

2006

천이 지연 고장 테스트를 위한 IEEE 1500 래퍼 셀 설계
김기태 ,  한주희 ,  황두찬 외 1명 대한전자공학회 학술대회 2006.11 학술대회자료

초록· 키워드

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As the integration density of System on Chips (SoCs) and the operating speed become increasingly fast, it is crucial to test delay. In order to detect transition delay fault, the test responses must be captured in a system clock cycle after applying sequential test pattern. This paper introduces an IEEE 1500 wrapper cell architecture and IEEE 1149.1 TAP controller to wrapper serial port interface logic, and propose a transition delay fault test. Proposed method can simultaneously test of transition delay fault of IEEE 1500 wrapped cores using different core clocks, has low area overhead, and reduces test time.

목차

Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. IEEE 1500 Standard
Ⅲ. Enhanced IEEE 1500 test method
Ⅳ. 검증 결과
Ⅴ. 결론
참고문헌

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