다양한 PCB의 전원 분배 망에서의 PLL의 전자기 내성 검증

황원준; 위재경

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자료유형: 학술저널

저자정보: 황원준 (숭실대학교) 위재경 (숭실대학교)

저널정보: 대한전자공학회 전자공학회논문지 전자공학회논문지 제52권 5호

발행연도: 2015.5

수록면: 74 - 82 (9page)

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전자장치의 복잡도 증가와 전원 전압 감소 추세에 따라, 내부 또는 외부에서 발생되는 노이즈에 대한 칩 또는 모듈의 전자기 내성 평가는 필수적이다. 칩 레벨 EMS 표준 시험방법으로 IEC 62132-4의 Direct Power Injection(DPI) 방법이 있지만, 실제 칩 내성은 모듈 상 보드 PDN 구조에 영향 받는다. 이 논문에서는 PLL의 내성을 평가하고 보드의 PDN 구조에 따른 잡음전달 특성을 비교하였다. 여러 PDN을 만들기 위해 다양한 값의 커패시터들과 LDO 사용 유무 조건이 적용되었다. IC의 전자기 요구사항과 IC 및 보드로 구성된 모듈의 전자기 요구사항 간 불일치를 평가하기 위해, PDN들에 따른 노이즈 전달 특성을 분석하는 것은 강건한 EM 특성을 갖도록 설계하는데 중요한 정보를 줄 수 있음을 보였다. DPI 측정 결과는 LDO 사용에 따라 PLL 저주파 영역의 내성이 크게 개선되었음을 보여주며, DPI에 따른 PLL의 주파수 변화를 TEM cell 스펙트럼 측정으로도 확인 할 수 있었다.

#PDN #DPI #PLL #EMI #EMS

참고문헌 (9)

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1. [학술지(정기간행물)] - M. Ramdani / 2009 / The Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits-Past, Present, and Future / IEEE Transaction on Electromagnetic Compatibility 51 (1) : 78 ~ 100

2. [학술지(정기간행물)] - I. Chahine / 2007 / Characterization and modeling of the susceptibility of integrated circuits to conducted electromagnetic disturbances up to 1 GHz / IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility 50 (2) : 285 ~ 293

3. [학술대회논문] - Wu Jian-fei / 2011 / Investigation on DPI Effects in a Low Dropout Voltage Regulator / EMC Compo 2011 - 8th Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits : 153 ~ 158

4. [기타자료] - / / IEC 62132, Ed.1: Integrated Circuit -Measurementsof electromagnetic Immunity –150kHz to 1GHz

5. [기타자료] - / / IEC 62132-4, 2003, Direct RF Power Injection to measure the immunity against conducted RF-disturbances of integrated circuits up to 1GHz / IEC standard

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