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저자정보
최수림 (한국국제대학교) 정봉재 (한국국제대학교) 박형후 (한국국제대학교) 문종욱 (신테크) 박지군 (한국국제대학교) 강상식 (한국국제대학교)
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 2015년도 대한전자공학회 하계종합학술대회
발행연도
2015.6
수록면
1,100 - 1,103 (4page)

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본 연구에서는 침전법을 이용하여 Gd₂O₂S:Tb 형광체 필름을 제작하여, 형광체 입자 크기와 형광체 필름 두께의 변화에 따른 화질 영향을 Contrast method을 이용하여 평가하였다. 제작된 형광체 필름을 기존 상용화된 CMOS 기반의 센서와 접합하여 획득한 영상을 Rad-icon CMOS 센서에서 획득한 영상을 비교 분석하였다. 그 결과 형광체 입자의 크기가 작을수록, 형광체 필름의 두께가 얇을수록 기존 상용화된 제품에 비해 우수한 MTF 값을 획득할 수 있었다.
입자크기에 따른 MTF 평가에서는 2 lp/mm 공간주파수에서의 MTF 값이 기존 제품의 0.6에 비해, 본 연구에서 제작한 2.5㎛ 형광체 입자의 경우, 0.71로 높게 평가되었다. 또한 형광체 필름 두께에 따른 해상력 평가 결과는 120㎛에서 0.82, 150㎛ 두께에서 0.71 및 210㎛ 두께에서 0.59로 형광체 필름 두께가 증가할수록 MTF 값이 감소하는 것으로 나타났다. 또한 이는 상용화된 Rad-icon CMOS 센서(형광체 두께 150㎛)의 0.6에 비해 본 연구에서 제작한 2.5㎛ 입자크기, 150㎛ 형광체 두께의 형광체 필름에서 0.71 로 다소 높게 측정되었다.

목차

Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 본론
Ⅲ. 결과 및 고찰
Ⅳ. 결론
참고문헌

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