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송승제 (성균관대학교) 김광호 (성균관대학교) 조정민 (삼성전자) 이승배 (삼성전자) 김소영 (성균관대학교) 나완수 (성균관대학교)
저널정보
한국전자파학회 한국전자파학회논문지 韓國電磁波學會論文誌 第26卷 第10號
발행연도
2015.10
수록면
895 - 906 (12page)

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본 논문에서는 모바일 충전회로를 대상으로 IEC 규격의 EFT/B(Electric Fast Transient and Burst) 내성 시험을 수행할 때 전달되는 신호를 예측할 수 있는 방법론 및 모델을 제안한다. EFT/B 신호는 모바일 충전회로가 충전 중인 상태에서 전달되기 때문에 교류전원 단에서 부터 부하 단까지의 신호전달특성을, 모바일 충전회로에 교류전원이 연결된 상태에서 알아야할 필요가 있다. 이를 위하여 간단한 CDN(Coupling-Decoupling Network)을 설계 제작하였으며, 이것을 이용하여 교류전원이 연결되어 있을 때와 연결되어 있지 않을 때의 두 가지 경우에 대해서 모바일 충전회로의 S-parameter를 VNA(Vector Network Analyzer)를 이용하여 측정하였다. 그 결과, 측정된 모바일 충전회로의 S-parameter 특성은 전원의 연결 유무와 거의 무관하였으며, 이것을 근거로 하여 모바일 충전회로만의 전달특성을, 전원이 연결되지 않은 상태에서, 적절한 인터페이스를 제작하여 측정하였다. 실제 EFT/B 신호 입출력의 전달함수를 구하여 S-parameter 측정의 정확성을 검증하였다. 이렇게 측정된 특성을 이용하여 모바일 충전회로의 EFT/B 신호가 전달되는 특성을 효과적으로 예측할 수 있었음을 보였다.
#EFT/B Immunity Test #Mobile Charging Circuit #S-Parameter #AC Power Line

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. EFT/B 신호 분석
Ⅲ. EFT/B 내성 시험 회로의 S-Parameter 측정
Ⅳ. S-parameter를 이용한 EFT/B 출력 전압 예측
Ⅴ. 결론
References

참고문헌 (6)

참고문헌 신청
[기타자료] - / 2004 / Testing and Measurement Techniques-Electrical Fast Transient/Burst Immunity Test / IEC 61000-4-4 Standard, 2nd ed google schola [단행본] - David M, Pozar / 2009 / Microwave Engineering / John Wiley &sons google schola [학술지(정기간행물)] - Graziano, Cerri / 2001 / Electrical fast-transient test: Conducted and radiated disturbance determination by a complete source modeling / Electromagnetic Compatibility, IEEE Transactions on 43 (1) : 37 ~ 44 google schola [학술대회논문] - Corneliu, Ursachi / 2014 / Immunity to electrical fast transient pulses of computer systems / Applied and Theoretical Electricity(ICATE), 2014 International Conference on. IEEE google schola [학술지(정기간행물)] - Ji, Zhang / 2014 / Modeling injection of electrical fast transients into power and IO pins of ICs / Electromagnetic Compatibility, IEEE Transactions on 56 (6) : 1576 ~ 1584 google schola

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