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논문 기본 정보

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학술저널
저자정보
안중현 (경북대학교) 윤지애 (경북대학교) 조정훈 (경북대학교) 박대진 (경북대학교)
저널정보
대한전자공학회 전자공학회논문지 전자공학회논문지 제52권 제12호
발행연도
2015.12
수록면
99 - 108 (10page)

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이 논문의 연구 히스토리 (3)

2017

Safe Backup Clock Changer for MCU Clock Failure Protection in Noisy Environment : 노이즈 환경에서 안전한 MCU 클럭 보호를 위한 백업 클럭 변환기
안중현 전자공학부 2017.01 학위논문

2015

안전하지 않은 I/O핀 노이즈 환경에서 MCU 클럭 보호를 위한 자동 온칩 글리치 프리 백업 클럭 변환 기법
안중현 ,  윤지애 ,  조정훈 외 1명 전자공학회논문지 2015.12 학술저널
안전한 MCU 클럭 보호를 위한 온칩 클럭 검사기 기반 자동화된 글리치 프리 백업 클럭 변환 기법
안중현 ,  박대진 ,  조정훈 대한전자공학회 학술대회 2015.06 학술대회자료

초록· 키워드

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클럭 펄스에 동기 되어 동작하는 임베디드 마이크로컨트롤러는 미션 크리티컬한 응용환경에서 입력 클럭에 가해지는 급격한 전기적 왜란의 영향에 의해 오동작이 발생되기 쉽다. 다양한 외부 전기적 노이즈에 대한 내성 있는 시스템 동작이 요구되며 시스템 클럭 관점에서 견고한 회로 디자인 기술이 점차 중요한 이슈가 되고 있다. 본 논문에서는 이러한 시스템의 비이상적인 상황을 방지하기 위해 자동 클럭 에러 검출을 위한 온 칩클럭 컨트롤러 구조를 제안한다. 이를 위해 에지 검출기, 노이즈 제거기와 글리치 프리 클럭 스위칭 회로를 적용하였고, 에지 검출기는 입력 클럭의 비이상적인 저주파수 상태를 검출하는데 사용 되었으며, 딜레이 체인 회로를 이용한 클럭 펄스의 노이즈 제거기는 글리치 성분을 검출 할 수 있도록 하였다. 이렇게 검출된 입력 클럭의 비이상적인 상황은 글리치 프리 클럭 변환기에 의해 백업 클럭으로 스위칭하게 된다. 회로 시뮬레이션을 통해 제안된 백업 클럭 변환기의 동작을 검증하였고 테스트환경에서 방사노이즈를 인가하였을 때 시스템 클럭의 내성에 대한 주파수 특성을 평가하였다. 본 기법을 범용 MCU 구조에 추가적으로 적용하여 작은 하드웨어의 추가만으로도 시스템 클럭의 안전성을 확보하는 하나의 방법을 제시한다.
#safety #clock failure protection #glitch-free clock switch #noise cancel

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 본론
Ⅲ. 실험
Ⅳ. 결론
REFERENCES

참고문헌 (13)

참고문헌 신청
[학술대회논문] - R. Mariani / 2006 / Fault-robust microcontrollers for automotiveapplications / On-Line Testing Symposium, 2006. IOLTS 2006. 12th IEEE International : 6 ~ google schola [학술지(정기간행물)] - G. Buja / 2012 / Dependability and functional safety : Applications in industrial electronics systems / Industrial Electronics Magazine 6 (3) : 4 ~ 12 google schola [학술대회논문] - H. Gall / 2008 / Functional safety iec 61508 / iec 61511the impact to certification and the user / Computer Systems and Applications, 2008. AICCSA 2008. IEEE/ACS International Conference on : 1027 ~ 1031 google schola [학술대회논문] - S. Ben Dhia / 2002 / Characterisation of microcontroller electromagnetic emission: models for an international standard / Devices, Circuits and Systems, 2002. Proceedings of the Fourth IEEE International Caracas Conference on : I030 – I1 ~ I030 – I8 google schola [학술대회논문] - T. Tamandl / 2007 / Online Self Tests for Microcontrollers in Safety Related Systems / 2007 5th IEEE International Conference on Industrial Informatics 1 : 137 ~ 142 google schola

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김윤권 ,  신형승 ,  정제명 대한전기학회 학술대회 논문집 2006 .10
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이상엽 ,  김명규 ,  이영종 외 1명 한국정보과학회 학술발표논문집 1997 .04

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