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저자정보
Weeranat Phasamak (King Mongkut’s Institute of Technology Ladkrabang) Yuttapong Rangsanseri (King Mongkut’s Institute of Technology Ladkrabang) Surapol Boonjan (King Mongkut’s Institute of Technology Ladkrabang)
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 ICEIC 2017 International Conference on Electronics, Information, and Communication
발행연도
2017.1
수록면
15 - 18 (4page)

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This paper proposes a new technique for automatic scaling of critical frequency foF2 parameter of F2-layer from ionograms. In this paper, we have examined ionograms data collected at Chumphon, Thailand, in March 2015, during the period that the observed F2 layer traces can be identified. Our method extracts foF2 value in few steps, by removing unnecessary area then scan the ionogram for removing vertical line noise of ionogram and apply edge detection to get the last point of the trace, which can be used to calculate the corresponding frequency. The results are very close to manual operation.

목차

Abstract
1. Introduction
2. Ionosonde and Test Data
3. The Proposed Algorithm
4. Analysis
5. Conclusion
References

참고문헌 (0)

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