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논문 기본 정보

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저자정보
김무진 (건국대학교) 윤장혁 (건국대학교) 최덕용 (한국지식재산전략원) 경진영 (해담특허법률사무소)
저널정보
한국경영과학회 한국경영과학회 학술대회논문집 한국경영과학회 2015년 춘계공동학술대회 논문집
발행연도
2015.4
수록면
563 - 567 (5page)

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

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특허정보를 활용한 모든 분석의 선행단계로 관련기술의 특허수집을 실시하는데, 이때 노이즈 특허 필터링은 필수적이며 전문인력에 의한 많은 시간을 필요로 한다. 본 연구는 1) Shannon Entropy의 정보량 분석기법을 응용해 노이즈 특허 시드를 추천하고, 2) Latent Dirichlet Allocation 기반의 특허간 의미론적 유사성 분석 통해 노이즈 시드 특허에 대한 결정화를 실시함으로써, 노이즈 특허들을 효율적으로 제거하는 새로운 방법을 제시한다. 제시되는 방법은 다양한 기술분석 방법의 필수적 선행단계인 유효특허 정제에 소요되는 시간과 비용을 획기적으로 줄인다.

목차

초록
1. 서론
2. 배경이론
3. 방법론
4. 결론
참고문헌

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