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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
Chun-Hyung Cho (Hongik University) Ho-Young Cha (Hongik University) Hyuk-Kee Sung (Hongik University)
저널정보
대한전자공학회 JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE Journal of Semiconductor Technology and Science Vol.17 No.2
발행연도
2017.4
수록면
180 - 185 (6page)

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In this research, we proposed the simple and efficient method to calculate the shear stresses by using the mid-point measurements in ± 45<SUP>o</SUP> semiconductor resistor-sensor pair. Compared to the previous works, the measurements became much simpler by combining the approximation theory with the technique of mid-point measurement. In addition, we proposed another novel method for the stress calculation in which we could increase the sensitivity of the stress sensor by controlling the applied voltage between the sensor-pair. For the applied voltage of 8 V, the sensitivity showed a significant increase by 100%.

목차

Abstract
I. INTRODUCTION
II. REVIEW OF GENERAL THEORY
III. CHIP DESIGN & ANALYSIS
IV. CONCLUSIONS
V. FUTURE WORKS
ACKNOWLEDGMENTS
REFERENCES

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UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2018-020-000839671