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한국산학기술학회 한국산학기술학회 논문지 한국산학기술학회논문지 제8권 제4호
발행연도
2007.8
수록면
930 - 937 (8page)

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본 논문에서는 단계별로 검사공정과 재가공공정으로 구성된 K단계 검사시스템의 설계문제를 다루며 사례연구를 제시한다. 검사원의 Type Ⅰ과 Ⅱ의 오차를 가정하고, 양품으로 분류된 제품도 재검사를 한다는 정책 하에 목표 불량률을 달성할 수 있는 가장 작은 정수인 K값을 결정한다. 만약 K값이 존재하지 않을 경우 TypeⅠ과 Ⅱ의 오차는 변하지 않는다고 가정하여 목표 불량률을 달성할 수 있는 (조립생산라인의 불량률, 재가공불량률)을 역으로 탐색한다. 본고에서 제시된 K단계 검사시스템에 대한 공식과 방법론은 약간의 수정을 가한다면 유사한 검사환경에 적용할 수 있다.

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