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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
임헌상 (삼성전자) 성시일 (경기대학교)
저널정보
한국신뢰성학회 신뢰성응용연구 신뢰성응용연구 제18권 제1호
발행연도
2018.3
수록면
80 - 86 (7page)
DOI
10.33162/JAR.2018.03.18.1.80

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Purpose: This article provides a mathematical model for the accelerated degradation test when the performance degradation characteristic follows the lognormal distribution.
Method: For developing test plans, the total number of test units and the test time are determined based on the minimization of the asymptotic variance of the q-th quantile of the lifetime distribution at the use condition.
Results: The mathematical model for the accelerated degradation test is provided.
Conclusion: Accelerated degradation test method is widely used to evaluate the product lifetime within a resonable amount of cost and time. In this article. a mathematical model for the accelerated degradation test method is newly developed for this purposes.

목차

1. 서론
2. 가정 및 시험 상황
3. 수리 모형
4. 최적화
5. 결론 및 향후 연구 방향
References

참고문헌 (7)

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