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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
Donggu Kim (한국과학기술원) Hoojin Lee (한성대학교)
저널정보
대한전자공학회 전자공학회논문지 전자공학회논문지 제55권 제6호(통권 제487호)
발행연도
2018.6
수록면
39 - 44 (6page)
DOI
10.5573/ieie.2018.55.6.39

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통신 시스템에서 최악의 페이딩이라고 알려진 two-ray (TR) 페이딩의 영향을 효과적으로 분석하기 위해, 본 논문에서는 일반적인 binary 변조 방식을 채택한 시스템의 정확한 비트 오류율 (bit error rate)에 대한 포괄적이고 통합적인 닫힌 형태의 수식을 유도한다. 또한, maximal ratio combining (MRC) 다이버시티 기법을 채택한 시스템에서의 정확한 비트 오류율 수식도 함께 구한다. 추가적으로 high signal-to-noise ratio (SNR) 영역에서의 통합적인 닫힌 형태의 점근적 비트 오류율 수식 유도를 통해 TR 페이딩이 통신 시스템에 미치는 영향 및 가장 대표적인 페이딩 모델인 Rayleigh 페이딩 채널 환경과 비교했을 때의 상대적인 SNR 성능 열화에 대해서 보다 효과적으로 분석할 수 있게 된다. 후반부에는 다양한 수치 해석 결과를 제시하여 본 논문에서 유도된 여러 수식들의 정확성을 입증한다.

목차

요약
Abstract
Ⅰ. Introduction
Ⅱ. Channel Model
Ⅲ. Error Performance Analysis
Ⅳ. Numerical Results
Ⅴ. Conclusions
REFERENCES

참고문헌 (12)

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UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2018-569-002220678