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Young-Bok Joo (한국기술교육대학교) Hye-Seung Park (한국기술교육대학교) Kyung-Moo Huh (단국대학교)
저널정보
제어로봇시스템학회 제어로봇시스템학회 논문지 제어로봇시스템학회 논문지 제24권 제9호
발행연도
2018.9
수록면
857 - 860 (4page)
DOI
10.5302/J.ICROS.2018.18.0099

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Automatic vision inspection (AVI) systems automatically detect defect features and measure their sizes via camera-vision sensors. In this paper, a commercial automatic vision inspection system is developed by using a filter design based on magnitude spectrum analysis for defects on a TFT-LCD panel. All the inspection process’s modules, including image acquisition, the camera interface, and algorithms, are implemented and packed in a PCI-board that is equipped with FPGA and DSP processors. The system automatically inspects any abnormality on each cell, such as the level of brightness, possible cracks, and so on. However, cell patterns normally make inspection difficult. We propose an efficient and powerful algorithm to eliminate cell patterns by using magnitude spectrum analysis, which is followed by the main inspection.
#vision #inspection #TFT-Cell #defect #magnitude #spectrum

목차

Abstract
I. INTRODUCTION
II. Defect Detection and Measurement
III. Defect Detection Algorithm with Magnitude Spectrum
V. CONCLUSION
REFERENCES

참고문헌 (14)

참고문헌 신청
E. N. Malamas, E. G. M. Patrakis, M. Zervakis, L. Petit, and J. D. Legat, “A survey on industrial vision systems, applications and tools,” Image and Vision Computing, vol. 21, Issue 2, pp. 171-188, Feb. 2003. R. Sablatnig, “A flexible concept for automatic visual inspection,” Czech Pattern Recognition Workshop'97, Proc. of (CPRW'97), 1997. J. H. N. Mattick, R. W. Kelsall, and R. E. Miles, “Improved critical area prediction by application of pattern recognition techniques,” Microelectronics Robustness, vol. 36, no. 11-12, pp. 1815-1818, Dec. 1996. E. N. Malamas, E. G. M. Patrakis, M. Zervakis, L. Petit, and J. D. Legat, “A survey on industrial vision systems, applications and tools,” Image and Vision Computing, vol. 21, issue 2, pp. 171-188, Feb. 2003. B. C. Jiang, C. C. Qang, and H. C. Liu, “Liquid crysta display surface uniformity defect inspection using analysis of variance and exponentially weighted moving average techniques,” International Journal of Production Research, vol. 43, no. 1, pp. 67-80, 2005.

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