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논문 기본 정보

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학술저널
저자정보
류동열 (에이디텍) 이병찬 (에이디텍) 최성빈 (에이디텍) 조경록 (충북대학교)
저널정보
대한전자공학회 전자공학회논문지 전자공학회논문지 제55권 제11호(통권 제492호)
발행연도
2018.11
수록면
40 - 47 (8page)
DOI
10.5573/ieie.2018.55.11.40

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본 논문에서는 Key 스캔 및 LED 구동 회로의 기생 용량 성분으로 인해 발생되는 기생 전류에 의하여 구동되지 않는 LED가 켜지는 빛 누설 현상을 제거하는 회로를 제안하였다. 빛 누설 현상은 인접 LED를 발광하게 만들어 사용자의 오독을 유발시킨다. 제안하는 회로는 동작 구간의 휴지기에 기생 용량 성분에 대하여 선행 충/방전 시킴으로써 각 동작에는 영향이 없이 빛 누설을 제거하도록 구현하였다.

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. Key 스캔 및 LED 구동 회로에서의 빛 누설
Ⅲ. Key 스캔 및 LED 구동부의 빛 누설 제거회로
Ⅳ. 칩 제작 및 검증
Ⅴ. 결론
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