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자료유형
학술저널
저자정보
류동열 (에이디텍) 이병찬 (에이디텍) 최성빈 (에이디텍) 조경록 (충북대학교)
저널정보
대한전자공학회 전자공학회논문지 전자공학회논문지 제55권 제11호(통권 제492호)
발행연도
2018.11
수록면
40 - 47 (8page)
DOI
10.5573/ieie.2018.55.11.40

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본 논문에서는 Key 스캔 및 LED 구동 회로의 기생 용량 성분으로 인해 발생되는 기생 전류에 의하여 구동되지 않는 LED가 켜지는 빛 누설 현상을 제거하는 회로를 제안하였다. 빛 누설 현상은 인접 LED를 발광하게 만들어 사용자의 오독을 유발시킨다. 제안하는 회로는 동작 구간의 휴지기에 기생 용량 성분에 대하여 선행 충/방전 시킴으로써 각 동작에는 영향이 없이 빛 누설을 제거하도록 구현하였다.
#LED #Key scan #LED light leakage #Micro LED Display

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. Key 스캔 및 LED 구동 회로에서의 빛 누설
Ⅲ. Key 스캔 및 LED 구동부의 빛 누설 제거회로
Ⅳ. 칩 제작 및 검증
Ⅴ. 결론
REFERENCES

참고문헌 (8)

참고문헌 신청
Y. M. Yu, “LED market and technology trend,” Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea, Vol. 37, No. 2, pp. 161-162, February 2010. B. K. Lee and J. H. Kim, “A Design of Embedded LED Display Board Module and Control Unit which the Placement of Pixels is Free,“ Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea, Vol. 50, No. 10, pp. 135-137, October 2013. ADT8722 datasheet, ADTECH. STLED316S datasheet, STMICROELECTRONIS. Joel Gehlin, “Drive time-multiplexed LED arrays at high current,” LEDs Magazine, March 2013.

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