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저자정보
조희연 (이화여자대학교) 김경실 (이화여자대학교) 최은정 (이화여자대학교) 김정태 (이화여자대학교)
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 2018년도 대한전자공학회 정기총회 및 추계학술대회
발행연도
2018.11
수록면
452 - 455 (4page)

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For inspecting defects in display devices, we study machine learning based machine vision system using images of the display devices. Specifically, we investigate two convolutional encoder-decoder based methods: one network has subsampling layers while the other has no subsampling layer. The methods have less parameters than existing convolutional encoder-decoder based methods for image classification. Experimental results show that the convolutional encoder-decoder with sub-sampling layer performs better than that of without sub-sampling layer.

목차

Abstract
I. 서론
II. 본론
Ⅲ. 실험 내용 및 결과
Ⅳ. 결론 및 향후 연구 방향
참고문헌

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